Materials Characterization II - VO |
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Institut:
Institut für Elektronenmikroskopie und Nanoanalytik
Zeitleiste: 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 0 Sem. WS SS WS SS WS SS WS SS WS SS WS SS WS SS WS SS WS SS WS SS 200x 201x
LV-Nummer: MAS.160UF
Semesterstunden: 1
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Inhalt:
Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie (Elektronenstreuung und Elektronenoptik); Rasterelektronenmikroskopie (REM) und Transmissionselektronenmikroskopie (TEM); Aufbau von Elektronenmikroskopen; Probenvorbereitung für die Elektronenmikroskopie; Einführung in die Abbildungstheorie und Bildentstehung in der Elektronenmikroskopie; Mikro- und nanoanalytische Methoden: Röntegnspektrometrie und Elektronenenergieverlustspektrometrie, Oberflächenabbildung mit Rastersondenmikroskopie (AFM); Chemische Abbildung mit Raman und Infrarotmikroskopie, Lichtmikroskopie Typische Anwendungsbeispiele aus der Praxis der Materialwissenschaften. Einführung in die Methoden der Lichtmikroskopie und der chemischen Abbildung mit Raman und Infrarotmikroskopen.
Quelle:
TUGraz-Online
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